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中科全聚焦相控陣檢測(cè)儀HS PA30-E，支持64陣元全聚焦，能夠滿(mǎn)足更加復(fù)雜的相控陣檢測(cè)需求，檢測(cè)數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)分析。 可適配2組TOFD檢測(cè)通道，支持雙相控陣TOFD一體成像，可一次性掃查覆蓋100mm厚度的焊縫。
更新時(shí)間：2025-07-04
型號(hào)：HS PA30-E
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
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